Tecnologia d'integració d'equips de test automàtic per a l'optimització del test en producció de xips a baix cost

El present projecte de final de carrera es basa en el disseny i implementació d’un equip de test que pot arribar a testejar en paral·lel fins a quatre xips de baixes prestacions. Cadascun d’aquests xips és analitzat per un tester anomenat MicroTester, el qual és una configuració ja implementada en el que hi vaig col·laborar. El prototip que es presenta, anomenat MultiSite_MT, és dissenyat per tal de situar el MicroTester dins de l’àmbit del test de xips en producció amb les característiques de mínim cost i consum. En l’actualitat, aquests dos factors prenen valors molt elevats; en el cas del cost del test per exemple, s’ha arribat a tal punt que testejar un xip pot ser tant o més car que fabricar-lo. Per tant, és necessària una contínua anàlisi de la reducció dels seus efectes. Per tal de situar els objectius del projecte, s’ha iniciat la memòria amb una part introductòria conceptual que descriu les característiques més importants que defineixen l’etapa del test en la producció de xips: la descripció dels tipus de test que es realitzen en el procés de fabricació, les tendències i els nous reptes a millorar en el test, la classificació dels actuals testers que treballen en paral·lel, i l’anàlisi dels factors que afecten en el cost del test. Un cop presentada la situació actual, es procedeix a la descripció de la solució proposada. Inicialment es resumeix l’arquitectura MicroTester i l’entorn en què s’ha implementat. Tot seguit, es presenta el prototip del projecte: MultiSite_MT. Aquest es basa en el disseny d’un tester en paral·lel de quatre xips, cadascun dels quals és testejat i analitzat per un MicroTester. És implementat per una FPGA que també emmagatzema el conjunt de vectors de test dirigits a cada xip i els seus possibles errors produïts durant el test, en una memòria Flash interna. L’enginyer de test pot controlar l’equip des d’una interfície exterior a través de la qual pot donar l’ordre d’inici dels tests, enviar el conjunt de vectors de test de cada xip, o bé llegir els errors produïts, a la vegada que pot visualitzar en tot moment l’estat dels quatre tests. La comunicació entre aquests sistemes es realitza mitjançant un mòdul UART que agrupa les dades rebudes a través d’un port sèrie, i les envia cap a un microcontrolador integrat que controla i distribueix tota la informació segons sigui el seu destí. Aquests dos mòduls també poden treballar en sentit contrari, transmetent la informació requerida cap a la interfície del PC que controla l’enginyer de test. El darrer punt analitzat en aquest projecte són les proves experimentals, on es pot comprovar el correcte funcionament de l’equip amb una elevada eficiència de paral·lelisme en el test. En definitiva, en aquest projecte queda demostrada la viabilitat d’un tester específic per a xips de baixes prestacions, econòmic, de baix consum, escalable i amb una gran facilitat d’implementació per a qualsevol hardware que el suporti