La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias

The latest generation in microscopic technology has introduced a group of techniques generically referred to as Scanning Probe Microscopy (SPM). Through these tools it is possible to perform detailed analysis of morphological, mechanical and chemical properties, among others, of the studied surface, with resolutions sometimes better than the ones obtained through scanning electron microscopy. New technologies, based on nanosciences, use these instruments to get augmented images of a few groups of atoms organized by nature itself or as a consequence of the manipulation made possible by nanotechnology. In this paper, a basic description of functioning principles and a general overview of applications of the SPM techniques in material analysis are presented. Some results obtained with different samples are also described.La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica. Las nuevas tecnologías basadas en nanociencias, se han apoyado en estos instrumentos para obtener imágenes aumentadas de unos pocos grupos de átomos, cuyo orden obedece a la naturaleza misma o a la manipulación deliberada, a la cual se ha accedido gracias al desarrollo de la nanotecnología. En este trabajo se presenta una descripción básica de los principios de funcionamiento, el panorama general de las aplicaciones de la técnica SPM en el análisis de materiales y algunos resultados obtenidos sobre diferentes tipos de muestras