Pengaruh Friction Time dan Sudut Chamfer Satu Sisi Terhadap Struktur Mikro dan Kekerasan Sambungan Las Gesek Al-Mg-Si.

Aluminium merupakan logam non ferrous yang cukup luas penggunaanya. Dari banyaknya kelebihan terdapat salah satu kekurangan dari proses manufaktur aluminium. Penghantar panasnya yang baik, sehingga aluminium sulit terjadi pemanasan daerah lasan saat dilakukan pengelasan dengan menggunakan las busur atau las gas. Maka dalam studi eksperimental ini diteliti mikrostruktur dan distribusi kekerasan pada daerah lasan dengan menggunakan metode friction welding. Friction Welding adalah penyambungan dua material dimana salah satu material berputar dan material yang lain bergerak maju dari adanya pegas untuk membuat tekanan terhadap ujung material yang berputar. Metode yang digunakan adalah metode penelitian eksperimental nyata (true experimental research). Variabel bebas dalam penelitian ini adalah friction time (90, 120, 150 dan 180 detik) dan besar sudut chamfer pada satu sisi (11,50, 150, 300 dan 450). Variabel terikat dalam penelitian ini yaitu hasil foto mikrostruktur dan distribusi kekerasan pada daerah fully plasticized zone ( Zpl), partly deformed zone (Zpd) dan undeformed zone (Zud) hasil pengelasan gesek. Sedangkan variabel terkontrol dalam penelitian ini adalah kecepatan putar 1600 rpm, gaya tekan pada saat proses pengelasan 123 kgf dan gaya tekan akhir 156.8 kgf. Hasil penelitian menunjukkan bahwa pada sudut chamfer 11.50 friction time 180 detik didapatkan nilai kekerasan tertinggi dibanding dengan spesimen lain yaitu sebesar 80.92 VHN di daerah Zpl, kekerasan 77.74 VHN di daerah Zpd, kekerasan 75.01 VHN di daerah Zud, dengan ukuran diameter butir rata-rata yang lebih kecil dan rapat yaitu 18.47 µm. Sedangkan nilai kekerasan terendah berada pada hasil lasan spesimen dengan sudut chamfer 450 friction time 180 detik yaitu sebesar 59.6 VHN pada daerah Zpl, kekerasan 74.24 VHN pada daerah Zpd, kekerasan 72.00 VHN pada daerah Zud, dengan ukuran diameter butir rata-rata lebih besar dan unhomogen yaitu 27.13 µm