Ask
Search
My library

About
Statistics
Contact
Data Protection
Accessibility
Imprint
Changelog
Frontend: v1.31.3
Backend: v1.11.4

We use cookies to provide a better user experience.

Data Protection

Studying juvenile surfaces of semiconductor crystals by AFM / V. A. Liopo, A. U. Sheleg, A. V. Kartavtsev, A. F. Sen’ko

Лиопо, В. А.
Шелег, А. У.
Картавцев, А. В.
Сенько, А. Ф.

Publication date

January 1999

Publisher

Минск : БГУ

Abstract

Для исследования поверхностной активности полупроводниковых кристаллов TIGaSe2 и TIInSSe использовался метод атомно-силовой микроскопии. Показано, что обработка этих кристаллов у-излучением изменяет их структурную дефектность и увеличивает их поверхностную активность. Изменения ювенильной поверхности продолжаются в течение нескольких десятков минут

Extracted data

Related items

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

March 2020

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Studying structural features of semiconductor crystals after y-radiation action / V.A.Liopo, A.V.Sabutz, N.A.Semikolenova, A.U.Sheleg

Лиопо, В. А.
Сабуть, А. В.
Семиколенова, Н. А.
Шелег, А. У.

January 2001

Методом рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности полупроводниковых кристалло...

Studying structural features of semiconductor crystals after y-radiation action / V.A.Liopo, A.V.Sabutz, N.A.Semikolenova, A.U.Sheleg

Лиопо, В. А.
Сабуть, А. В.
Семиколенова, Н. А.
Шелег, А. У.

January 2001

Методом рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности полупроводниковых кристалло...

Researches of a physic mechanical state of a surface of crystal silicon

Джилавдари, И. З.
Емельянов, В. А.
Пилипенко, В. А.
Петлицкая, Т. В.
Gilavdary, I. Z.
Emelyanov, V. A.
Pilipenko, V. A.
Petlitskaya, T. V.

January 2006

Предложен неразрушающий метод исследования физико-механических свойств поверхно- сти материалов, ос...

Intelligent information technology for the identification of diffraction patterns of crystalline materials

Соловей, В.В.

Алгоритм та програмне забезпечення комп’ютерної інтелектуальної системи розпізнавання електронограм...

Scientific problem of modifying of primary crystals of a α-phase of silumin castings. Solutions

Марукович, Е. И.
Стеценко, В. Ю.

February 2020

Показано, что интерметаллиды модифицирующих лигатур не являются центрами кристаллизации первичных кр...

On the urgency of conducting research on various groups of filamentary crystals

Артемьев, Сергей Робленович
Шапорев, Валерий Павлович
Цимбал, Богдан Михайлович

January 2017

В статье проведен литературный обзор проблемы проведения исследований в области различных групп ните...

On the urgency of conducting research on various groups of filamentary crystals

Артемьев, Сергей Робленович
Шапорев, Валерий Павлович
Цимбал, Богдан Михайлович

January 2017

В статье проведен литературный обзор проблемы проведения исследований в области различных групп ните...

Scientific problem of modifying of primary crystals of a β-phase of silumin castings. Solutions

Марукович, Е. И.
Стеценко, В. Ю.

February 2020

Показано, что фосфор, содержащийся в расплаве силумина в количестве 0,01–0,04%, находится в растворе...

The account of influence of the natural surface layer under investigation of silicon plates by the method of spectral ellipsometry

Стаськов, Н.И.
Ивашкевич, И.В.
Сотский, А.Б.
Сотская, Л.И.

March 2020

Исследуется возможность исключения влияния естественного поверхностного слоя при определении методом...

Mechanical characteristics of surface layers of silicon at bombardment by the accelerated ions

А.К. Гнап
Н.М. Пелихатый
Н.Й. Коваленко
Н.Я. Рохманов
Г.В. Прохоров
А.К. Гнап
М.М. Пеліхатий
М.Й. Коваленко
М.Я. Рохманов
Г.В. Прохоров
А.К. Gnap
N.М. Pelikatniy
N.I. Kovalenko
N.Ya. Rokhmanov
G.V. Prokhorov

January 2003

Приведены результаты изучения влияния бомбардировки кремния ионами бора и кремния на его микротвердо...

Research of micro fissuring particles of garnet from concentrate of Zavalievskogo deposit Results

Калашник, А. А.
Ковришкин, Н. А.
Калашник, Г.
Ковришкін, М.
Kalashnyk, G.
Kovryshkin, М.

January 2012

В статье изложены результаты изучения микротрещиноватости частиц граната концентратов, полученных из...

Research of micro fissuring particles of garnet from concentrate of Zavalievskogo deposit Results

Калашник, А. А.
Ковришкин, Н. А.
Калашник, Г.
Ковришкін, М.
Kalashnyk, G.
Kovryshkin, М.

January 2012

В статье изложены результаты изучения микротрещиноватости частиц граната концентратов, полученных из...

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

March 2020

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Studying structural features of semiconductor crystals after y-radiation action / V.A.Liopo, A.V.Sabutz, N.A.Semikolenova, A.U.Sheleg

Лиопо, В. А.
Сабуть, А. В.
Семиколенова, Н. А.
Шелег, А. У.

January 2001

Методом рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности полупроводниковых кристалло...

Studying structural features of semiconductor crystals after y-radiation action / V.A.Liopo, A.V.Sabutz, N.A.Semikolenova, A.U.Sheleg

Лиопо, В. А.
Сабуть, А. В.
Семиколенова, Н. А.
Шелег, А. У.

January 2001

Методом рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности полупроводниковых кристалло...

Researches of a physic mechanical state of a surface of crystal silicon

Джилавдари, И. З.
Емельянов, В. А.
Пилипенко, В. А.
Петлицкая, Т. В.
Gilavdary, I. Z.
Emelyanov, V. A.
Pilipenko, V. A.
Petlitskaya, T. V.

January 2006

Предложен неразрушающий метод исследования физико-механических свойств поверхно- сти материалов, ос...

Intelligent information technology for the identification of diffraction patterns of crystalline materials

Соловей, В.В.

Алгоритм та програмне забезпечення комп’ютерної інтелектуальної системи розпізнавання електронограм...

Scientific problem of modifying of primary crystals of a α-phase of silumin castings. Solutions

Марукович, Е. И.
Стеценко, В. Ю.

February 2020

Показано, что интерметаллиды модифицирующих лигатур не являются центрами кристаллизации первичных кр...

On the urgency of conducting research on various groups of filamentary crystals

Артемьев, Сергей Робленович
Шапорев, Валерий Павлович
Цимбал, Богдан Михайлович

January 2017

В статье проведен литературный обзор проблемы проведения исследований в области различных групп ните...

On the urgency of conducting research on various groups of filamentary crystals

Артемьев, Сергей Робленович
Шапорев, Валерий Павлович
Цимбал, Богдан Михайлович

January 2017

В статье проведен литературный обзор проблемы проведения исследований в области различных групп ните...

Scientific problem of modifying of primary crystals of a β-phase of silumin castings. Solutions

Марукович, Е. И.
Стеценко, В. Ю.

February 2020

Показано, что фосфор, содержащийся в расплаве силумина в количестве 0,01–0,04%, находится в растворе...

The account of influence of the natural surface layer under investigation of silicon plates by the method of spectral ellipsometry

Стаськов, Н.И.
Ивашкевич, И.В.
Сотский, А.Б.
Сотская, Л.И.

March 2020

Исследуется возможность исключения влияния естественного поверхностного слоя при определении методом...

Mechanical characteristics of surface layers of silicon at bombardment by the accelerated ions

А.К. Гнап
Н.М. Пелихатый
Н.Й. Коваленко
Н.Я. Рохманов
Г.В. Прохоров
А.К. Гнап
М.М. Пеліхатий
М.Й. Коваленко
М.Я. Рохманов
Г.В. Прохоров
А.К. Gnap
N.М. Pelikatniy
N.I. Kovalenko
N.Ya. Rokhmanov
G.V. Prokhorov

January 2003

Приведены результаты изучения влияния бомбардировки кремния ионами бора и кремния на его микротвердо...

Research of micro fissuring particles of garnet from concentrate of Zavalievskogo deposit Results

Калашник, А. А.
Ковришкин, Н. А.
Калашник, Г.
Ковришкін, М.
Kalashnyk, G.
Kovryshkin, М.

January 2012

В статье изложены результаты изучения микротрещиноватости частиц граната концентратов, полученных из...

Research of micro fissuring particles of garnet from concentrate of Zavalievskogo deposit Results

Калашник, А. А.
Ковришкин, Н. А.
Калашник, Г.
Ковришкін, М.
Kalashnyk, G.
Kovryshkin, М.

January 2012

В статье изложены результаты изучения микротрещиноватости частиц граната концентратов, полученных из...

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

January 2013

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....

Growth of CuIn13S20 single crystals and structures on their basic

Шаталова, В. В.

March 2020

Методом направленной кристаллизации (вертикальный метод Бриджмена) выращены монокристаллы CuIn13S20....