Determination of optical parameters for semiconductor thin films with Kramers-Kronig relations.

TEZ10190Tez (Yüksek Lisans) -- Çukurova Üniversitesi, Adana, 2014.Kaynakça (s. 65-66) var.ix, 73 s. : res. (bzs. rnk.), tablo ; 29 cm.Kramers-Kronig dönüşümü, yansıma spektrumu verilerinden kırılma indisi ve sönüm katsayısının elde edilmesinde kullanılmakta olan sayısal bir metottur. Kramers-Kronig (K-K) dönüşümleri Mat-Lab yazılımına adapte edilerek yarıiletken ince filmlerin optik parametrelerinin belirlenmesinde kullanılmıştır. Bu tez çalışması kapsamında üretilen yarıiletken ince filmlerin ölçülen yansıma spektrumlarından optik parametreler K-K dönüşümleri ile hesaplandı. Elde edilen teorik sonuçların deneysel verilerle iyi bir uyum içinde olduğu belirlendi.The Kramers-Kronig transformations are numerical methods, that are useable to obtain refractive index and extinction coefficient from reflection spectra. The Kramers-Kronig transformations were adapted to Mat-Lab Software and determined the optical parameters of semiconductor thin films. The optical parameters of semiconducting thin films, which were produced in this study, were calculated from reflection spectra with K-K transformations. The calculated theoretical results were in good agreement with experimental data.Bu çalışma Ç.Ü. Bilimsel Araştırma Projeleri Birimi tarafından desteklenmiştir. Proje No: FEF2013YL43