Applications of 200 kV analytical electron microscopy to the study of fine textures of minerals

A 200 kV analytical electron microscope (Hitachi-700H) has been used for quantitative chemical analysis with spatial resolution of a few hundred A. In specimens less than 1 µm thick, a linear relation between the counts of the characteristic X-rays of each element and the total counts has been shown to exist at 200 kV. The disadvantage of using 200 kV, instead of 100 kV, in the analytical mode, is the slight decrease in signal/noise ratio and the decrease of intensity of the characteristic X-rays from the light elements. However, 200 kV electron microscopy results in a larger area for electron microscopy. The 200 kV analytical electron microscope has been applied to the study of fine textures of minerals such as the exsolution textures in pyroxenes, kelyphitic rims around garnet and synthetic materials made at high temperatures and pressures. The results clearly show the usefulness of 200 kV analytical electron microscopy for the study of fine textures of minerals.On a utilisé un microscope électronique analytique à 200 kV (Hitachi-700H) pour l'analyse chimique quantitative avec une résolution spatiale de quelques centaines d'angströms. On a montré que pour les échantillons d'épaisseur inférieure à 1µm, il existe, à 200 kV, une relation linéaire entre l'intensité du rayonnement X caractéristique et l'intensité totale. L'inconvénient d'une tension de 200 kV par rapport à une tension de 100 kV pour l'analyse, est une faible diminution du rapport signal/bruit et l'affaiblissement du rayonnement X caractéristique pour les éléments légers. Cependant, la microscopie électronique à 200 kV permet l'observation d'une plus grande surface. On a utilisé le microscope électronique analytique à 200 kV pour l'étude des textures fines de minéraux telles que les textures d'exsolution dans les pyroxènes, les bords kélyphitiques autour du grenat et des matériaux synthétiques fabriqués à haute température et haute pression. Les résultats démontrent l'intérêt de la microscopie électronique analytique à 200 kV pour l'étude des textures fines des minéraux.Morimoto Nobuo, Kitamura Masao. Applications of 200 kV analytical electron microscopy to the study of fine textures of minerals. In: Bulletin de Minéralogie, volume 104, 2-3, 1981. 12e assemblée générale de l'I.M.A. - Orléans – Juillet 1980. Première partie : croissance cristalline / Physique des minéraux / Microscopie électronique