National audienceDe par l'évolution des technologies des semi-conducteurs et la multiplication d'applications embarquées dans des environnements sévères, les défaillances induites par des décharges électrostatiques (ElectroStatic Discharges-ESD) deviennent une préoccupation majeure. Ces évènements transitoires de forte puissance peuvent provoquer la destruction du matériel ou induire des fautes logiques tout aussi critiques pour les applications où la sécurité des personnes est en jeu. Le principal objectif est de définir et de valider une méthodologie comportementale de construction de modèle de circuits intégrés (CI), pour simuler l'impact des ESD dans un système. Ce travail se fait dans le cadre du groupe de normalisation WG26 de l'ESDA ...
International audienceLa Compatibilité Electromagnétique (CEM) apparaît aujourd'hui comme l'une des ...
La miniaturisation des circuits intégrés se poursuit de nos jours avec le développement de technolog...
Nous constatons actuellement un accroissement considérable du nombre d'actionneurs et de sources d'é...
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International audienceLa fiabilité des systèmes embarqués soumis aux décharges électrostatiques (Ele...
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Durant leurs utilisations, les produits électroniques sont soumis à des décharges électrostatiques (...
Grâce à l'augmentation continue des performances des circuits intégrés, l'électronique s'est largeme...
National audienceLes défaillances induites par les décharges électrostatiques (ESD) constituent un p...
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National audience-Dans une vision de transports plus économiques, l'apport des matériaux composites ...
International audienceLes protections anti décharges électrostatiques, en anglais ElectroStatic Disc...
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Les décharges électrostatiques (ESD) modélisées par le composant chargé (CDM) sont un problème de fi...
Ce mémoire constitue une étude de validation d'une architecture de systèmes répartis fans laquelle l...
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