Цифровой емкостный спектрометр СЕ-6

Емкостные методы исследования электрических характеристик барьерных структур достаточно широко и результативно используются для измерения концентрации, энергии ионизации и сечения захвата носителей ловушками в полупроводниках. В данной работе кратко описан разработанный аппаратно-программный комплекс (в дальнейшем - емкостный спектрометр) для измерения статических и динамических вольт-емкостных характеристик барьерных полупроводниковых структур