Analysis of functional defeat possibilities of radioelectronic systems element base

В статье рассмотрены основные механизмы функционального поражения элементной базы радиоэлектронных систем: тепловой и электрический пробой, эффект «защелкивания», метод накопления повреждений. Дано качественное объяснение эффектов деградации при использовании последовательности коротких сигналов при большой скважности.В статті розглянуті основні механізми функціонального ураження елементної бази радіоелектронних систем: тепловий та електричний пробої, ефект «защілкування», метод накопичення ушкоджень. Дано якісне пояснення ефектів деградації при використанні послідовності коротких сигналів при великій сквапності.In the article the basic mechanisms of element base functional defeat of the radioelectronic systems are considered: thermal and electric hasp, effect of "palling", method of damages accumulation. The quality explaining to of effects degradation at the use of sequence of short signals is given