Modelando la dinámica de un cantiléver de Microscopía de Fuerza Atómica AFM

AbstractCurrently some research involves computing, as well as experiment. On the other hand, computersimulation can provide valuable approaches to scientific problems. The atomic force microscopy(AFM) is one of the scanning probe microscopy techniques, which locally scans interatomic forcesbetween a sample and a probe. The oscillatory motion of the cantilever can be simulated mathematicallyusing a forced damped harmonic oscillator model. The fact that it is possible to mathematicallyapproach the behaviour of the cantilever-sample system, allows them to be programmed and computedto predict the physical behavior at a theoretical level.Keywords: Simulation, dynamics, cantilever, AFM. Parte de la investigación científica actual involucra el empleo de diversas herramientas computacionales,tanto teóricas como de experimentación. La simulación computacional puede brindar acercamientosvaliosos a la resolución de problemas científicos. La microscopía de fuerza atómica (AFM) constituyeuna de las técnicas de microscopía de sonda local; busca escanear las fuerzas interatómicas quepueden establecerse entre una muestra y una sonda. El movimiento oscilatorio del cantiléver se puedemodelar matemáticamente utilizando los primeros armónicos de la ecuación de un oscilador armónicoforzado con amortiguamiento. El hecho de que sea posible modelar matemáticamente permite queambos comportamientos puedan ser programados y computados para la predicción del comportamientofísico a nivel teórico.