Micrographie par les rayons X et structure des cristaux imparfaits. (I) Étude géométrique du montage

On décrit une méthode dérivée de celle de Berg-Barrett pour obtenir, par réflexion des rayons X monochromatiques sur une face cristalline, une image des imperfections locales du cristal : désorientation des plans réfléchissants et variation du pouvoir réflecteur. Le pouvoir séparateur de la méthode est calculé. Dans une seconde partie (Bull. Soc. fr. Minér. Crist. 1957) on appliquera cette méthode à des cristaux de FLi et Al.Merlini Alfonso, Guinier André. Micrographie par les rayons X et structure des cristaux imparfaits. (I) Étude géométrique du montage. In: Bulletin de la Société française de Minéralogie et de Cristallographie, volume 80, 4-6, 1957. pp. 147-157