Die konfokale Mikroskopie ist ein weit verbreitetes Verfahren der industriellen Messtechnik. Wir präsentieren ein chromatisch-konfokales Messsystem, das sich eines Farblängsfehlers zur parallelen Erfassung der Tiefeninformationen an mehreren lateralen Messpunkten bedient. Die Auswertung der Messdaten erfolgt mit einem Mehrkanalspektrometer
Um gestiegenen Anforderungen an das Messvolumen von Nanopositionier- und Nanomessmaschinen Rechnung ...
Dieser Beitrag behandelt die Qualität und Genauigkeit von Bildverarbeitungssystemen zur Messung von ...
Eine Beschreibung einer 3D-Szene mittels Lichtfeldern führt nicht nur zu einer umfassenden Theorie ...
Die konfokale Mikroskopie ist ein weit verbreitetes Verfahren der industriellen Messtechnik. Wir prä...
Die Interferenzlithografie stellt hohe Anforderungen an die Stabilität der Phasenlage der interferie...
Die vorliegende Vorrichtung betrifft ein Verfahren zur optischen Formerfassung glänzender, glatter F...
Wir stellen drei Signalerzeugungsmodelle vor, die die spektrale Leitungsverteilung am Ausgang eines ...
In diesem Bericht präsentieren wir ein optisches Pinzettensystem für die dreidimensionale Manipulati...
Die völlige Abwesenheit von Adhäsionskräften zwischen Objekt und optischer Pinzette stellt einen imm...
In 1.0 5m CMOS Technik wurde ein Prozessor zur parallelen Verarbeitung einer speziellen Hough-Transf...
Digitale holografische Messtechnik kann zur Gewinnung dreidimensionaler Bildinformation eingesetzt w...
Wir stellen ein neuartiges Verfahren zur Vermessung und Charakterisierung optisch glatter Freiformob...
Das Mikroskop ist als universelles Inspektionssystem für kleine Strukturen aus Anwendungsfeldern wie...
Um gestiegenen Anforderungen an das Messvolumen von Nanopositionier- und Nanomessmaschinen Rechnung ...
Dieser Beitrag behandelt die Qualität und Genauigkeit von Bildverarbeitungssystemen zur Messung von ...
Eine Beschreibung einer 3D-Szene mittels Lichtfeldern führt nicht nur zu einer umfassenden Theorie ...
Die konfokale Mikroskopie ist ein weit verbreitetes Verfahren der industriellen Messtechnik. Wir prä...
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Eine Beschreibung einer 3D-Szene mittels Lichtfeldern führt nicht nur zu einer umfassenden Theorie ...