Fine-grained error detection techniques for fast repair of FPGAs

Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) are reconfigurable hardware components that have found great commercial success over the past years in a wide variety of application niches. High processing throughput, flexibility and reduced design time are among the main assets of such devices, and are essential to their commercial success. These features are also valuable for critical systems that often face stringent performance constraints. Furthermore, the possibility to perform post-deployment reprogramming is relevant, as it allows adding new functionalities or correcting design mistakes, extending the system lifetime. Such devices, however, rely on large memories to store the configuration bitstream, responsible for defining the current FPGA function. Thus, faults affecting this configuration are able to cause functional failures, posing a major dependability threat. The most traditional means to remove such errors, i.e., configuration scrubbing, consists in periodically overwriting the memory with its desired contents. However, due to its significant size and limited access bandwidth, scrubbing suffers from a long mean time to repair, and which is increasing as FPGAs get larger and more complex after each generation. Reconfigurable partitions are useful to reduce this time, as they allow performing a local repair procedure on the affected partition. For that purpose, fast error detection mechanisms are required, in order to quickly trigger this localized scrubbing and reduce error latency. Moreover, precise diagnosis is necessary to identify the error location within the configuration addressing space. Fine-grained redundancy techniques have the potential to provide both, but usually introduce significant costs due to the need of numerous redundancy checkers. In this work we propose a fine-grained error detection technique that makes use of abundant and underused resources found in state-of-the-art FPGAs, namely the carry propagation chains. Thereby, the technique provides the main benefits of fine-grained redundancy while minimizing its main drawback. Very significant reductions in error latency are attainable with the proposed approach. A heuristic mechanism to explore the diagnosis provided by techniques of this nature is also proposed. This mechanism aims at identifying the most likely error locations in the configuration memory, based on the fine-grained diagnosis, and to make use of this information in order to minimize the repair time of scrubbing.Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) são componentes reconfiguráveis de hardware que encontraram grande sucesso comercial ao longo dos últimos anos em uma grande variedade de nichos de aplicação. Alta vazão de processamento, flexibilidade e tempo de projeto reduzido estão entre os principais atrativos desses dispositivos, e são essenciais para o seu sucesso comercial. Essas propriedades também são valiosas para sistemas críticos, que frequentemente enfrentam restrições severas de desempenho. Além disso, a possibilidade de reprogramação após implantação é relevante, uma vez que permite a adição de novas funcionalidades ou a correção de erros de projeto, estendendo a vida útil do sistema. Tais dispositivos, entretanto, dependem de grandes memórias para armazenar o bitstream de configuração, responsável por definir a função presente do FPGA. Assim, falhas afetando esta configuração são capazes de causar defeitos funcionais, sendo uma grande ameaça à confiabilidade. A forma mais tradicional de remover tais erros, isto é, scrubbing de configuração, consiste em periodicamente sobrescrever a memória com o seu conteúdo desejado. Entretanto, devido ao seu tamanho significativo e à banda de acesso limitada, scrubbing sofre de um longo tempo médio de reparo, e que está aumentando à medida que FPGAs ficam maiores e mais complexos a cada geração. Partições reconfiguráveis são úteis para reduzir este tempo, já que permitem a execução de um procedimento local de reparo na partição afetada. Para este propósito, mecanismos rápidos de detecção de erros são necessários para rapidamente disparar este scrubbing localizado e reduzir a latência de erro. Além disso, diagnóstico preciso é necessário para identificar a localização do erro dentro do espaço de endereçamento da configuração. Técnicas de redundância de grão fino têm o potencial de prover ambos, mas normalmente introduzem custos significativos devido à necessidade de numerosos verificadores de redundância. Neste trabalho, propomos uma técnica de detecção de erros de grão fino que utiliza recursos abundantes e subutilizados encontrados em FPGAs do estado da arte, especificamente as cadeias de propagação de vai-um. Assim, a técnica provê os principais benefícios da redundância de grão fino enquanto minimiza sua principal desvantagem. Reduções bastante significativas na latência de erro são atingíveis com a técnica proposta. Também é proposto um mecanismo heurístico para explorar o diagnóstico provido por técnicas desta natureza. Este mecanismo tem por objetivo identificar as localizações mais prováveis do erro na memória de configuração, baseado no diagnóstico de grão fino, e fazer uso dessa informação de forma a minimizar o tempo de reparo