Determinação experimental de seção de choque de produção eficaz de Raios X com feixe de prótons para filmes de Alumínio e Al2O3

Nas técnicas de microanálise, como espectroscopia de emissão de raios X induzida por partículas (Particle Induced X Ray Emission - PIXE), o valor das intensidades medidas no espectro está relacionado com a concentração dos elementos correspondentes. Os programas que fazem esta transformação usam uma série de parâmetros físicos a fim de corrigir os efeitos da matriz. São algoritmos complexos e que precisam de uma vasta biblioteca de parâmetros, entre os quais a seção de choque de produção eficaz de raios X: uma medida da probabilidade de geração de fótons associados a uma linha característica. O objetivo deste trabalho é obter experimentalmente este parâmetro, a partir de medidas de PIXE em filmes finos, cujas espessuras foram obtidas usando as técnicas de Retroespalhamento de Rutherford (RBS) e a Refletometria de raios X (XRR)