Caratterizzazione di materiali nanostrutturati mediante spettrofotometro

Nel presente elaborato è riportato uno studio sulle proprietà ottiche di meta-materiali nano-strutturati. In particolare, mediante l'uso di uno spettrofotometro, si è osservato il fenomeno di risonanza plasmonica di superficie di nanofili metallici in matrice di allumina. I nanofili esaminati sono stati cresciuti mediante elettrodeposizione all'interno di una matrice di allumina porosa, creata con specifici parametri geometrici attraverso un processo di anodizzazione. Sempre mediante uno spettrofotometro, attraverso cui sono stati acquisiti gli spettri di assorbimento e riflessione dei materiali, è stato possibile osservare la variazione della risonanza plasmonica al cambiare dei parametri del fascio di luce, come l'angolo di incidenza o l'asse di polarizzazione, oppure delle caratteristiche del campione stesso, come l'altezza dei nanofili. È stata osservata anche l'influenza che i nanofili hanno sul fenomeno delle frange di interferenza da lamina sottile. confrontando gli spessori ricavati dagli spettri di riflessione di nanofili a diversa altezza con quello dell'allumina vuota