A CONTRIBUTION TO THE STUDY OF POSITION ANNIHILATION IN AMORPHOUS METALLIC ALLOYS

THE POSITRON ANNIHILATION IN TRANSITION METAL-METALLOID AMORPHOUS ALLOYS HAS BEEN STUDIED. THE TEMPERATURE DEPENDENCE OF POSITRON ANNIHILATION (BETWEEN 12K AND 293K) WAS EXPLAINED BY ACCEPTING THE EXISTENCE OF A VARIETY OF STRUCTURAL "DEFECTS" WHICH RESULTS TO POSITRON TRAPPING. THE POSITRON BINDING ENERGY IN SHALLOW TRAPS WAS FOUND NOT EXCEEDING 0.1 EV. STRUCTURAL RELAXATION WAS OBSERVED TO RESULT TO A DECREASE OF THE FREE VOLUME, NOT AFFECTING SUBSTANTIALLY SHALLOW TRAPS. THESE TRAPS SEEMS TO BE A KIND OF LINEAR DEFECTS. RECRYSTALLIZATION OF AMORPHOUS ALLOYS (BY RELATIVELY HIGH TEMPERATURE ANNEALING) AFFECTS SIGNIFICANTLY POSITRON ANNIHILATION CHARACTERISTICS. THE MAIN FEATURES ARE: A) A MONOTONOUS DECREASE IN POSITRON LIFETIME AND S-PARAMETER DURING THE GROWTH OF SINGLE PHASE CRYSTALLINE GRAINS AND B) THE EXISTENCE OF A MINIMUM DUE TO RECRYSTALLIZATION OF METASTABLE CRYSTALLINE PHASES WHICH HAVE APPEARED AT THE FIRST STAGES OF CRYSTALLIZATION.ΜΕΛΕΤΗΘΗΚΕ Η ΕΞΑΥΛΩΣΗ ΠΟΖΙΤΡΟΝΙΩΝ ΣΕ ΑΜΟΡΦΑ ΜΕΤΑΛΛΙΚΑ ΚΡΑΜΑΤΑ ΜΕΤΑΒΑΤΙΚΟΥ ΜΕΤΑΛΛΟΥ-ΜΕΤΑΛΛΟΕΙΔΩΝ. Η ΕΞΑΡΤΗΣΗ ΤΗΣ ΕΞΑΥΛΩΣΗΣ ΑΠΟ ΤΗ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΑ (ΜΕΤΑΞΥ 12Κ ΚΑΙ 293K) ΕΡΜΗΝΕΥΤΗΚΕ ΜΕ ΤΗΝ ΥΠΑΡΞΗ ΜΙΑΣ ΠΟΙΚΙΛΙΑΣ "ΑΤΕΛΕΙΩΝ" ΔΟΜΗΣ ΠΟΥ ΠΡΟΚΑΛΟΥΝ ΠΑΓΙΔΕΥΣΗ ΤΩΝ ΠΟΖΙΤΡΟΝΙΩΝ. Η ΕΝΕΡΓΕΙΑ ΣΥΝΔΕΣΗΣ ΣΤΙΣ ΡΗΧΕΣ ΠΑΓΙΔΕΣ ΒΡΕΘΗΚΕ ΜΙΚΡΟΤΕΡΗ ΤΟΥ 0,1 EV. Η ΔΟΜΙΚΗ ΧΑΛΑΡΩΣΗ ΠΡΟΚΑΛΕΙ ΚΥΡΙΩΣ ΜΕΙΩΣΗ ΤΟΥ ΕΛΕΥΘΕΡΟΥ ΟΓΚΟΥ, ΧΩΡΙΣ ΕΠΗΡΕΑΣΜΟ ΤΩΝ ΡΗΧΩΝ ΠΑΓΙΔΩΝ. ΟΙ ΤΕΛΕΥΤΑΙΕΣ ΦΑΙΝΕΤΑΙ ΟΤΙ ΑΠΟΤΕΛΟΥΝ ΚΑΠΟΙΟ ΕΙΔΟΣ ΓΡΑΜΜΙΚΩΝ ΑΤΕΛΕΙΩΝ . Η ΑΝΑΚΡΥΣΤΑΛΛΩΣΗ ΤΩΝ ΑΜΟΡΦΩΝ ΚΡΑΜΑΤΩΝ (ΠΟΥ ΠΡΟΚΑΛΕΙΤΑΙΜΕ ΑΝΑΠΤΗΣΗ ΣΕ ΥΨΗΛΕΣ ΣΧΕΤΙΚΑ ΘΕΡΜΟΚΡΑΣΙΕΣ) ΕΠΗΡΕΑΖΕΙ ΣΗΜΑΝΤΙΚΑ ΤΑ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΑ ΕΞΑΥΛΩΣΗΣ. ΤΑ ΓΕΝΙΚΑ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΑ ΤΗΣ ΕΞΑΡΤΗΣΗΣ ΑΥΤΗΣ ΕΙΝΑΙ: Α) ΜΟΝΟΤΟΝΗΜΕΙΩΣΗ ΤΟΥ ΧΡΟΝΟΥ ΖΩΗΣ ΤΩΝ ΠΟΖΙΤΡΟΝΙΩΝ ΚΑ S-ΠΑΡΑΜΕΤΡΟΥ ΚΑΤΑ ΤΗΝ ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΚΡΥΣΤΑΛΛΙΚΩΝ ΚΟΚΚΩΝ ΑΠΛΗΣ ΦΑΣΗΣ ΚΑΙ Β) ΕΜΦΑΝΙΣΗ ΕΛΑΧΙΣΤΟΥ ΣΤΙΣ ΚΑΜΠΥΛΕΣ ΛΟΓΩ ΑΝΑΚΡΥΣΤΑΛΛΩΣΗΣ ΜΕΤΑΣΤΑΘΩΝ ΚΡΥΣΤΑΛΛΙΚΩΝ ΦΑΣΕΩΝ, ΕΜΦΑΝΙΣΘΕΝΤΩΝ ΣΤΑ ΠΡΩΙΜΑ ΣΤΑΔΙΑ ΤΗΣ ΚΡΥΣΤΑΛΛΩΣΗΣ