De nos jours, la durée de vie des modules d’électronique de puissance est désormais limitée par les technologies standards de conditionnement, telles que le câblage par fils et le brasage. Ainsi une optimisation des technologies actuellement employées n’est pas suffisante pour satisfaire les futures exigences de fiabilité. Pour dépasser ces limites, un nouveau module de puissance remplaçant les fils de connexion par des clips en cuivre a été développé. Ce design innovant vise à améliorer la fiabilité du module puisqu’il empêche la dégradation des fils de connexion, constituant bien souvent la principale source de défaillance. La contrepartie de ce gain de fiabilité réside dans la complexification de la structure interne du module. En effet,...
Ces travaux s’inscrivent dans le cadre du projet GENOME (GEstioN OptiMisée de l’Energie). Ce projet ...
Les travaux présentés dans ce mémoire portent sur l'évaluation de la fatigue thermomécaniqued'une no...
La tendance actuelle est d’intégrer des modules de puissance de plus en plus puissants dans des volu...
Today a point has been reached where safe operation areas and lifetimes of power modules are limited...
Le sujet de thèse porte sur le vieillissement des modules de puissance à semi-conducteurs. En foncti...
Cette thèse porte sur l'étude de la durée de vie de composants et modules de puissance dans des envi...
Cette thèse a pour objet l'étude de la fiabilité de modules de puissance triphasés à IGBTs 200 A - 6...
This PhD focuses on the study of the lifetime of components and power semiconductor modules under th...
This work is part of “GENOME” project which focuses on high-temperature packaging solutions for elec...
The work presented in this thesis focused on the study of thermo-mechanical fatigue of IGBT power mo...
EPE 2005 - 11th European Conférence on Power Electronics and Applications, Dresde, ALLEMAGNE, 11-/09...
This document presents a study of the electrical and energetic behaviour of supercapacitors under co...
Cet article étudie les mécanismes de rupture et la fiabilité de la couche de métallisation d'une puc...
HITEN 2005 - International Conference on High Temperature Electronics, Paris, FRANCE, 06-/09/2005 - ...
This work is a contribution to the evaluation of the power cycling reliability of different packagin...
Ces travaux s’inscrivent dans le cadre du projet GENOME (GEstioN OptiMisée de l’Energie). Ce projet ...
Les travaux présentés dans ce mémoire portent sur l'évaluation de la fatigue thermomécaniqued'une no...
La tendance actuelle est d’intégrer des modules de puissance de plus en plus puissants dans des volu...
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Le sujet de thèse porte sur le vieillissement des modules de puissance à semi-conducteurs. En foncti...
Cette thèse porte sur l'étude de la durée de vie de composants et modules de puissance dans des envi...
Cette thèse a pour objet l'étude de la fiabilité de modules de puissance triphasés à IGBTs 200 A - 6...
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Cet article étudie les mécanismes de rupture et la fiabilité de la couche de métallisation d'une puc...
HITEN 2005 - International Conference on High Temperature Electronics, Paris, FRANCE, 06-/09/2005 - ...
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