Être en mesure de vérifier si un circuit intégré est fonctionnel après fabrication peut s'avérer très difficile. Dans le cas des circuits analogiques et Radio Fréquence (RF) les procédures et les équipements de test nécessaires ont un impact majeur sur le prix de revient des circuits. Une approche intéressante pour réduire l'impact du coût du test consiste à mesurer des paramètres nécessitant des ressources de test faible coût et corréler ces mesures, dites mesures indirectes, avec les spécifications à tester. On parle alors de technique de test indirect (ou test alternatif) car il n'y a pas de mesure directe des spécifications, qui nécessiterait des équipements et du temps de test importants, mais ces spécifications sont estimées à partir ...
Recent silicon technologies are especially prone to imperfections during the fabrication of the circ...
Compte tenu de la complexité des circuits intégrés de nos jours et des nœuds technologiques qui ne c...
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité ...
Being able to check whether an IC is functional or not after the manufacturing process is very diffi...
Contrairement aux circuits numériques qui peuvent comporter plusieurs centaines de million de transi...
Les variations de processus et les défauts physiques peuvent dégrader les performances d'un circuit,...
Process variations and physical defects can degrade the performance of a circuit, or even drasticall...
The conventional approach for testing RF circuits is specification-based testing, which involves ver...
International audienceThis paper is in the field of Analog or RF integrated circuit testing. The con...
International audienceThis paper aims at opening a discussion on the quality assessment of indirect ...
La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de cr...
La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de cr...
The role of nano-electronic systems is rapidly expanding in every facet of modern life. Testing the ...
La complexité croissante des puces microélectroniques pose de très importants problèmes de test, ave...
L'expansion du marché des semi-conducteurs dans tous les secteurs d'activité résulte de la capacité ...
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