Le silicium poreux est un matériau qui est actuellement utilisé dans de nombreux domaines, tels que la biologie ou la microélectronique, grâce à ses propriétés remarquables. De nombreuses applications sont étudiées au sein du laboratoire GREMAN, telles que la fabrication de vias électrique ou de capacités 3D. Le matériau étudié au sein de cette thèse est du mésoporeux, qui est utilisé comme substrats dans les applications RF. La caractérisation non destructive de ce matériau est encore limitée, soit selon l’épaisseur de la couche poreuse, soit selon la taille des pores. Cela limite ainsi l’industrialisation des procédés de fabrication de silicium poreux. Une technique ultrasonore de caractérisation est proposée dans cette thèse afin de perm...
72 p.Porous silicon is quickly becoming an increasingly important and versatile electronic material ...
AbstractThis work aims at applying the laser-ultrasonic method for nondestructive evaluation of the ...
AbstractIn order to create equivalent images, a series of SEM micrographs of porous silicon were tre...
International audiencePorous silicon (PoSi) is becoming a widely used material for applications incl...
International audienceThis paper presents a non-destructive characterization of porous silicon wafer...
International audienceIn this paper, an ultrasonic characterization of mesoporous silicon is propose...
International audienceThe manufacturing processes of porous silicon (PoSi) now allow samples with va...
International audienceThis paper presents a method for ultrasonic characterization of porous silicon...
Les transducteurs ultrasonores capacitifs micro-usinés (CMUT) représentent aujourd’hui une réelle al...
This project presents a new method to characterize porous silicon (PS) from the scanning electron mi...
In this paper, we describe a nondestructive method based onx-ray reflectivity for measuring the thic...
Le nitrure de silicium est largement utilisé dans l’industrie verrière au sein d’empilements de couc...
National audienceLe silicium poreux est devenu un matériau largement utilisé en microélectronique, c...
L’objectif de cette thèse est d’étudier la propagation des ondes acoustiques dans un milieu à double...
Layers of porous silicon with a varying degree of porosity between 30% and 75% were prepared by elec...
72 p.Porous silicon is quickly becoming an increasingly important and versatile electronic material ...
AbstractThis work aims at applying the laser-ultrasonic method for nondestructive evaluation of the ...
AbstractIn order to create equivalent images, a series of SEM micrographs of porous silicon were tre...
International audiencePorous silicon (PoSi) is becoming a widely used material for applications incl...
International audienceThis paper presents a non-destructive characterization of porous silicon wafer...
International audienceIn this paper, an ultrasonic characterization of mesoporous silicon is propose...
International audienceThe manufacturing processes of porous silicon (PoSi) now allow samples with va...
International audienceThis paper presents a method for ultrasonic characterization of porous silicon...
Les transducteurs ultrasonores capacitifs micro-usinés (CMUT) représentent aujourd’hui une réelle al...
This project presents a new method to characterize porous silicon (PS) from the scanning electron mi...
In this paper, we describe a nondestructive method based onx-ray reflectivity for measuring the thic...
Le nitrure de silicium est largement utilisé dans l’industrie verrière au sein d’empilements de couc...
National audienceLe silicium poreux est devenu un matériau largement utilisé en microélectronique, c...
L’objectif de cette thèse est d’étudier la propagation des ondes acoustiques dans un milieu à double...
Layers of porous silicon with a varying degree of porosity between 30% and 75% were prepared by elec...
72 p.Porous silicon is quickly becoming an increasingly important and versatile electronic material ...
AbstractThis work aims at applying the laser-ultrasonic method for nondestructive evaluation of the ...
AbstractIn order to create equivalent images, a series of SEM micrographs of porous silicon were tre...