La réduction de la taille des transistors et des tensions d’alimentations permettent de concevoir des circuits intégrés de plus en plus complexes. Cependant, en abordant les limites de l’intégration des transistors et en fleuretant avec les tensions d’alimentation minimale, la fiabilité des circuits n’est plus garantie : des erreurs dues aux perturbations environnementales peuvent apparaitre. L’apparition de ces erreurs affectent le comportement du circuit et peuvent, par intermittence ou de façon permanente, le rendre inapte à rendre le service pour lequel il a été conçu. Par conséquent, il est de plus en plus important de considérer les effets de ces erreurs dans la conception des futurs circuits. L’objectif de la thèse est de traiter la ...