Cette thèse de doctorat porte sur le développement d'un banc de mesure pour la caractérisation thermique de la matière. Les techniques et instruments employés pour la mesure des propriétés thermo-physiques sont nombreux, évoluent constamment et font toujours l'objet de nombreuses recherches. Ils sont néanmoins bien souvent adaptés préférentiellement à un état de la matière et à la mesure spécifique d'un paramètre thermique.Le banc développé repose sur la méthode dite 3-omega, qui consiste à observer la réponse thermique fréquentielle d'un matériau soumis à un flux de chaleur harmonique. Cette technique met à profit l'effet thermo-résistif qui accomplit la transduction du domaine thermique vers le domaine électrique. Elle permet alors de mes...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...
L'objectif de nos études est d’appliquer la technique de radiométrie photothermique modulée, techniq...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...
This PhD thesis is devoted to the development of a measurement bench for thermal characterization. N...
Cette thèse de doctorat porte sur le développement d'un banc de mesure pour la caractérisation therm...
The 3 omega method is the best established method for measuring the thermal properties of thin films...
Avec la miniaturisation croissante des systèmes micro et nanoélectroniques, les problématiques therm...
There are growing needs to measure the thermal properties of small-volume liquid samples in various ...
Thermal conductivity of the constituent materials is one of the most important properties affecting ...
The 3-omega method has long proven to be a reliable measurement technique for thermal characterizati...
The knowledge of thermal properties of materials is important for many fields of technology such as ...
The knowledge of thermal properties of materials is important for many fields of technology such as ...
The 3-omega method has long proven to be a reliable measurement technique for thermal characterizati...
The objective of this thesis is to master quantitative aspects when using nearfield thermal microsco...
La microscopie thermique est un outil prometteur permettant d’étudier les mesures thermiques de maté...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...
L'objectif de nos études est d’appliquer la technique de radiométrie photothermique modulée, techniq...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...
This PhD thesis is devoted to the development of a measurement bench for thermal characterization. N...
Cette thèse de doctorat porte sur le développement d'un banc de mesure pour la caractérisation therm...
The 3 omega method is the best established method for measuring the thermal properties of thin films...
Avec la miniaturisation croissante des systèmes micro et nanoélectroniques, les problématiques therm...
There are growing needs to measure the thermal properties of small-volume liquid samples in various ...
Thermal conductivity of the constituent materials is one of the most important properties affecting ...
The 3-omega method has long proven to be a reliable measurement technique for thermal characterizati...
The knowledge of thermal properties of materials is important for many fields of technology such as ...
The knowledge of thermal properties of materials is important for many fields of technology such as ...
The 3-omega method has long proven to be a reliable measurement technique for thermal characterizati...
The objective of this thesis is to master quantitative aspects when using nearfield thermal microsco...
La microscopie thermique est un outil prometteur permettant d’étudier les mesures thermiques de maté...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...
L'objectif de nos études est d’appliquer la technique de radiométrie photothermique modulée, techniq...
This final year project presents the thermal conductivity characterization of Silicon bulk substrat...