Study of Optical Recording Bits by Scanning Probe Microscopy

在本論文中，首先使用化學侵蝕的技術處理商用相變化光碟CD-RW、DVD±RW上多餘的膜層結構，使其記錄層裸露於表面。接著使用靜電力顯微術(Electrostatic Force Microscopy)、表面電位顯微術(Scanning Surface Potential Microscopy) 與摩擦力顯微術(Frictional Force Microscopy)分別去研究記錄點(Recording Mark)的Crosstalk現象、相變化光碟記錄區域與非記錄區域的表面電位差異的對比與記錄點的大小規格。.接著應用這樣的技術於氧化鋅超解析近場碟片，200nm的記錄點,分析與商用碟片記錄點的差異We study the writing and erasing results on phase change optical recording layer using scanning probe microscopy. The dielectric protection layer on the phase change recording layer was removed before the scanning of surface potential microscopy and frictional force microscopy, respectively. The shape and size of the recording marks , the crosstalk effect, and the potential difference between the recorded and non-recorded area are studied. The results on commercial disk are used as the difference for the study of recording marks on the super-resolution near-field optical disk目錄 中文摘要 I 英文摘要 II 致謝 III 目錄 IV 圖目錄 VI 表目錄 XIV 第 一 章 光儲存系統的發展…………………………….…..1 1-1前言…………………………………………………………………1 1-2從CD DVD 到藍光儲存………………………………………….4 1-3磁光儲存…………………………………………………………...9 1-4 三維光儲存………………………………………………………11 第 二 章 相變化光碟……………………………………… 16 第 三 章 近場光學儲存…………………………………….20 第 四 章 掃描探針顯微技術……………………………….26 4-1 原子力顯微術……………………………………………………28 4-2 摩擦力顯微術……………………………………………………33 4-3 靜電力顯微術……………………………………………………35 4-4掃描表面電位顯微術…………………………………………….38 第 五 章 實驗製備,處理與實驗結果分析…………………40 5-1 商用光碟片表面處理……………………………………………40 5-2 實驗結果分析……………………………………………………42 5-2-1 摩擦力顯微術研究商用光碟片………………..………….42 5-2-2 掃描表面電位顯微術研究商用光碟片…………………...48 5-2-3靜電力顯微術研究商用光碟片…………………………….67 5-2-4 掃描探針顯微術研究光碟測試機寫入350nm記錄點於商用DVD+RW碟片……………..…………………………..72 5-2-5掃描探針顯微術研究超解析近場碟片………………...80 第 六 章 結論……………………………………………….90 Reference……………...…………………………………….9