METHOD FOR CONTROL OF RADIATION RESISTANCE OF OPTICAL MATERIAL SURFACE

FIELD: nondestructive material testing. SUBSTANCE: measured after preliminary radiation of surface with beam of ionizing radiation is energetic distribution of electrons emitted by surface within temperature range of 130-150 C from surface of tested samples. Values of average kinetic energy are used to estimate surface radiation resistance. Version is described in which 2-4 successive cycles radiation-heating-registration are carried out and control parameter is used in form of value of average kinetic energy of exoelectrons. EFFECT: higher efficiency. 2 cl, 3 dwg, 2 tbl.Использование: в неразрушающих методах контроля с использованием ионизирующего излучения. Сущность изобретения: после предварительного облучения поверхности пучком ионизирующего излучения измеряют энергетическое распределение электронов, эмиттируемых поверхностью в интервале температур 130-150°С с поверхности контролируемых образцов, и по значению средней кинетической энергии судят о лучевой прочности поверхности. Описан вариант, при котором проводят 2-4 последовательных цикла облучение - нагрев - регистрация, и в качестве параметра контроля используют значение средней кинетической энергии экзоэлектронов. 1 з.п. ф-лы, 3 ил., 2 табл