用MBE方法制备的PHEMT微结构材料,其2DEG浓度随材料结构的不同在2.0-4.0×10~(12)cm~(-2)之间,室温霍耳迁移率在5000-6500cm~2·V~(-1)·s~(-1)之间。制备的PHEMT器件,栅长为0.7μm的器件的直流特性:I_(dss)~280mA/mm,I_(max)~520-580mA/mm,g_m~320-400mS/mm,BV_(DS)>15V(I_(DS)=1mA/mm),BV_(GS)>10V,微波特性:P_0~600-900mW/mm,G~6-10dB,η_(add)~40-60%;栅长为0.4μm的器件的直流特性:I_(max)~800mA/mm,g_m>400mS/mm
介绍了主客掺杂NAEC/PMMA电光极化聚合物薄膜的制备方法,测得其紫外可风吸收光谱和在1064 nm波长下的二阶非线性系数X_(33)~((2)),为23.6 pm/V;采用两态模型,对X_(33)...
§3-5热稳定性研究 裂解产物生成的速率在某种程度上反映出高分子的热稳定性。图3-7为Pst、PMMA和MMA-St交替共聚物500℃时相应的主要裂解产物量(或余留的样品量)随着时间的变化关系。直线的...
以交联的魔芋葡甘聚糖微球(KGM)为基质,制备了DEAE型的阴离子交换层析介质,考察了反应物浓度、温度、时间等反应因素对魔芋葡甘聚糖层析介质离子交换容量的影响,确定最优反应参数。结果表明,层析介质的离...
利用GaAs衬底上的InAa薄膜制备的Hall器件,具有灵敏度高(在相同的电子浓度、室温附近灵敏度是GaAs Hall器件的1.5倍),不等位电压温漂小等优点。可用于电流传感器、无刷电机等磁敏传感器中...
在GaSa衬底上MBE生长大失配InAs薄膜,虽然在界面处存在大量位错,但仍能在InAs薄膜中得到较高的电子迁移率。掺Si样品的迁移率比同厚度未掺杂的样品要高。且对未掺杂的InAs薄膜,迁移率在室温附...
制度:新 ; 文部省報告番号:乙1107号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:1995-03-09 ; 早大学位記番号:新2193 ; 理工学図書館請求番号:1889早稲田大
采用低温荧光光谱测试方法,研究了MBE生长的轻掺硅GaAs材料的杂质特性,并结合Hall测量结果,讨论了MBE关键生长条件V/II束流比等对Si在GaAs中掺杂特性的影响,研究表明掺杂元素Si在GaA...
应用深能级瞬态谱(DLTS)技术详细研究分子束外延(MBE)和金属有机物化学汽相淀积(MOCVD)生长的AlGaAs/GaAs激光器的深中心。结果表明,在激光器的n-AlGaAs层里除众所周知的DX中...
根据MBE实际生长条件,采用在应变Si_(1-x)Ge_x/Si MQW结构中同应变相关的Ge的扩散系数,用生长过程的移动边界条件,求解了Ge在Si_(1-x)Ge_x/Si MQW中的扩散方程,模拟...
利用分子束外延(MBE)方法研制出了高质量的InGaAs/GaAs/AlGaAs应变量子阱激光器外延材料,其最低的阈值电流密度可达到140/cm~2,激发波长在980nm左右.通过脊型波导结构的制备,...
用分子束外延(MBE)技术研制出了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)材料,其室温迁移率为1 035 cm2/Vs、二维电子气浓度为1.0×1013 cm-2;77 K迁移率为2 653 ...
利用MBE方法在(001)GaAs衬底上生长了多层竖直自对准InAs量子点结构。透射电子显微镜的观察表明,多层量子点成一系列柱状分布。同单层量子点相比,多层量子点的光 荧光谱线发生红移。这表明 由于量...
利用分子束外延(MBE)方法研制出了高质量的InGaAs/AlGaAs应变量子阱激光器外延材料,其最低的阈值电流密度可达到120A/cm~2,激发波长在980nm左右。获得了高性能的适合于掺铒光纤放大...
采用分子束外延技术(MBE)生长了GaAs/AlGaAs单量子阱和多量子阱材料。采用GaAs/AlGaAs超晶格缓冲层掩埋衬底缺陷,获得的量子阱结构材料被成功地用于制作量子阱激光器。波长为778nm的...
通过对分子束外延(MBE)中影响GaAs、AlGaAs材料生长的一些关键因素的分析、实验与研究,得到了具有很好晶格完整性和高质量电学、光学特性的GaAs、AlGaAs单晶材料,实现了75mm大面积范围...
介绍了主客掺杂NAEC/PMMA电光极化聚合物薄膜的制备方法,测得其紫外可风吸收光谱和在1064 nm波长下的二阶非线性系数X_(33)~((2)),为23.6 pm/V;采用两态模型,对X_(33)...
§3-5热稳定性研究 裂解产物生成的速率在某种程度上反映出高分子的热稳定性。图3-7为Pst、PMMA和MMA-St交替共聚物500℃时相应的主要裂解产物量(或余留的样品量)随着时间的变化关系。直线的...
以交联的魔芋葡甘聚糖微球(KGM)为基质,制备了DEAE型的阴离子交换层析介质,考察了反应物浓度、温度、时间等反应因素对魔芋葡甘聚糖层析介质离子交换容量的影响,确定最优反应参数。结果表明,层析介质的离...
利用GaAs衬底上的InAa薄膜制备的Hall器件,具有灵敏度高(在相同的电子浓度、室温附近灵敏度是GaAs Hall器件的1.5倍),不等位电压温漂小等优点。可用于电流传感器、无刷电机等磁敏传感器中...
在GaSa衬底上MBE生长大失配InAs薄膜,虽然在界面处存在大量位错,但仍能在InAs薄膜中得到较高的电子迁移率。掺Si样品的迁移率比同厚度未掺杂的样品要高。且对未掺杂的InAs薄膜,迁移率在室温附...
制度:新 ; 文部省報告番号:乙1107号 ; 学位の種類:博士(工学) ; 授与年月日:1995-03-09 ; 早大学位記番号:新2193 ; 理工学図書館請求番号:1889早稲田大
采用低温荧光光谱测试方法,研究了MBE生长的轻掺硅GaAs材料的杂质特性,并结合Hall测量结果,讨论了MBE关键生长条件V/II束流比等对Si在GaAs中掺杂特性的影响,研究表明掺杂元素Si在GaA...
应用深能级瞬态谱(DLTS)技术详细研究分子束外延(MBE)和金属有机物化学汽相淀积(MOCVD)生长的AlGaAs/GaAs激光器的深中心。结果表明,在激光器的n-AlGaAs层里除众所周知的DX中...
根据MBE实际生长条件,采用在应变Si_(1-x)Ge_x/Si MQW结构中同应变相关的Ge的扩散系数,用生长过程的移动边界条件,求解了Ge在Si_(1-x)Ge_x/Si MQW中的扩散方程,模拟...
利用分子束外延(MBE)方法研制出了高质量的InGaAs/GaAs/AlGaAs应变量子阱激光器外延材料,其最低的阈值电流密度可达到140/cm~2,激发波长在980nm左右.通过脊型波导结构的制备,...
用分子束外延(MBE)技术研制出了AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)材料,其室温迁移率为1 035 cm2/Vs、二维电子气浓度为1.0×1013 cm-2;77 K迁移率为2 653 ...
利用MBE方法在(001)GaAs衬底上生长了多层竖直自对准InAs量子点结构。透射电子显微镜的观察表明,多层量子点成一系列柱状分布。同单层量子点相比,多层量子点的光 荧光谱线发生红移。这表明 由于量...
利用分子束外延(MBE)方法研制出了高质量的InGaAs/AlGaAs应变量子阱激光器外延材料,其最低的阈值电流密度可达到120A/cm~2,激发波长在980nm左右。获得了高性能的适合于掺铒光纤放大...
采用分子束外延技术(MBE)生长了GaAs/AlGaAs单量子阱和多量子阱材料。采用GaAs/AlGaAs超晶格缓冲层掩埋衬底缺陷,获得的量子阱结构材料被成功地用于制作量子阱激光器。波长为778nm的...
通过对分子束外延(MBE)中影响GaAs、AlGaAs材料生长的一些关键因素的分析、实验与研究,得到了具有很好晶格完整性和高质量电学、光学特性的GaAs、AlGaAs单晶材料,实现了75mm大面积范围...
介绍了主客掺杂NAEC/PMMA电光极化聚合物薄膜的制备方法,测得其紫外可风吸收光谱和在1064 nm波长下的二阶非线性系数X_(33)~((2)),为23.6 pm/V;采用两态模型,对X_(33)...
§3-5热稳定性研究 裂解产物生成的速率在某种程度上反映出高分子的热稳定性。图3-7为Pst、PMMA和MMA-St交替共聚物500℃时相应的主要裂解产物量(或余留的样品量)随着时间的变化关系。直线的...
以交联的魔芋葡甘聚糖微球(KGM)为基质,制备了DEAE型的阴离子交换层析介质,考察了反应物浓度、温度、时间等反应因素对魔芋葡甘聚糖层析介质离子交换容量的影响,确定最优反应参数。结果表明,层析介质的离...