Optique de la méthode de diffraction des rayons X de Laue

Placé en face du problème de la détermination précise de l'orientation des lames piézoélectriques, nous avons — après examen de différentes méthodes — fait choix de la méthode de Laue. Nous avons été amené ainsi à étudier complètement l'Optique des rayons X contribuant à la formation des «taches» de Laue. Cette étude nous a permis de définir les conditions requises pour obtenir la précision maxima dans la détermination des angles mutuels des plans réticulaires. Tenant compte de ces conditions, nous avons mis au point une méthode et un appareil qui permettent d'aboutir à une précision meilleure que la minute d'arc. Nous avons pu déterminer ainsi l'orientation de très nombreuses lames de quartz , de coupes très diverses, en vue de l'étude de leurs propriétés piézoélectriques. D'autre part, la connaissance des angles mutuels des éléments du réseau permet de calculer les rapports de ses paramètres. De la mesure d'un seul de ceux-ci, — par la méthode du cristal tournant par exemple, — on peut déduire la valeur des autres. Nous avons appliqué cette méthode au mica muscovite .Barraud Jean. Optique de la méthode de diffraction des rayons X de Laue. In: Bulletin de la Société française de Minéralogie et de Cristallographie, volume 74, 4-6, 1951. pp. 223-372