Add to ORKGTrabajo presentado en la VIII Reunión Nacional de Óptica, Alicante, Septiembre 2006.El cálculo numérico de patrones de Fresnel a través de la transformada rápida de Fourier requiere normalmente de un número de muestras extremadamente grande para cumplir la condición de Nyquist en el muestreo. En muchas aplicaciones, la frecuencia de corte del sistema está muy por debajo del límite fijado por nuestros cálculos con lo que, para obtener un muestreo correcto, serán necesarios procesos de cálculo pesados en muchos casos redundantes. Desafortunadamente, submuestrear puede introducir aliasing que distorsione la apariencia final de los patrones difractados. En este trabajo, presentamos un método simple que permite submuestrear el patrón de Fresnel ...