Виконаний аналіз методів параметричної ідентифікації технологій може бути використаний для отримання їх адекватного математичного опису із періодичним коригуванням алгоритмів за відомими вхідними і вихідними параметрами в умовах перешкод та ефективного управління технологіями. Одними із найкращих є знакові алгоритми, на роботу яких практично не впливають перешкоди на вході технологій.An analysis of the methods of parametric identification of technologies can be used to obtain an adequate mathematical description with periodic correction of algorithms with known input and output parameters under interference conditions and efficient technology control. One of the best are sign algorithms for work, which are practically not affected by input ...
В дипломній роботі рівня магістр було виконані такі задачі. Було проведено огляд технічної літерату...
Секция 2. Методологический потенциал современной философииРассматриваются концептуальные основания и...
Наведений метод патентних досліджень з використанням статистичної обробки патентної інформації, що в...
Виконаний аналіз методів параметричної ідентифікації технологій може бути використаний для отримання...
На единой научно-методологической основе рассмотрены численные методы анализа и оптимизации высокона...
На единой научно-методологической основе рассмотрены численные методы анализа и оптимизации высокона...
Исследуется задача восстановления матрицы наблюдений при оценивании функции регрессии по измерениям ...
Розглядається задача побудови системи тестового контролю на основі тестів закритого типу з використа...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Цель работы: разработка конструкций и технологических процессов создания тестовых полупроводниковых ...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Секция 2. Методологический потенциал современной философииРассматриваются концептуальные основания и...
В дипломній роботі рівня магістр було виконані такі задачі. Було проведено огляд технічної літерату...
Идентифицируется модель симпатрического видообразования с помощью теории оптимального управления. Дл...
В дипломній роботі рівня магістр було виконані такі задачі. Було проведено огляд технічної літерату...
Секция 2. Методологический потенциал современной философииРассматриваются концептуальные основания и...
Наведений метод патентних досліджень з використанням статистичної обробки патентної інформації, що в...
Виконаний аналіз методів параметричної ідентифікації технологій може бути використаний для отримання...
На единой научно-методологической основе рассмотрены численные методы анализа и оптимизации высокона...
На единой научно-методологической основе рассмотрены численные методы анализа и оптимизации высокона...
Исследуется задача восстановления матрицы наблюдений при оценивании функции регрессии по измерениям ...
Розглядається задача побудови системи тестового контролю на основі тестів закритого типу з використа...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Цель работы: разработка конструкций и технологических процессов создания тестовых полупроводниковых ...
Представлено описание оригинального комплексного подхода к решению задачи статистического а...
Секция 2. Методологический потенциал современной философииРассматриваются концептуальные основания и...
В дипломній роботі рівня магістр було виконані такі задачі. Було проведено огляд технічної літерату...
Идентифицируется модель симпатрического видообразования с помощью теории оптимального управления. Дл...
В дипломній роботі рівня магістр було виконані такі задачі. Було проведено огляд технічної літерату...
Секция 2. Методологический потенциал современной философииРассматриваются концептуальные основания и...
Наведений метод патентних досліджень з використанням статистичної обробки патентної інформації, що в...