Interaction of EMF-induced charged particle flux with electromagnetic oscillations in semiconductor accessories of radio equipment

Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл-диэлектрик-полупроводник. Определены потери энергии потоков заряженных частиц, обусловленные взаимодействием такого рода, на возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.Action of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus often results in EMF and currents arising in inner conductive elements as well as distortion of their internal fields. Power losses of charged particle flux caused by such interaction due to excitation of surface polaritons in metal - dielectric - semiconductor structures have been determined