Instability of surface waves at their interaction with a charged particle flux in semiconductor structure

Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обусловленный взаимодействием такого рода, определяющий возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.The paper presents an analytical model of an interaction mechanism for currents arising due to action of electromagnetic radiation in current - conducting elements of electric radio apparatus with inner electromagnetic oscillations of metal - dielectric - semiconductor structures. An instability increment that results from this interaction and specifies oscillation excitation in a submillimeter range is determined