Mécanismes d'optimisation des performances des processeurs VLIW à tolérance de fautes

Embedded processors in critical domains require a combination of reliability, performance and low energy consumption. Very Long Instruction Word (VLIW) processors provide performance improvements through Instruction Level Parallelism (ILP) exploitation, while keeping cost and power in low levels. Since the ILP is highly application dependent, the processors do not use all their resources constantly and, thus, these resources can be utilized for redundant instruction execution. This dissertation presents a fault injection methodology for VLIW processors and three hardware mechanisms to deal with soft, permanent and long-term faults leading to four contributions. The first contribution presents an Architectural Vulnerability Factor (AVF) and Instruction Vulnerability Factor (IVF) analysis schema for VLIW processors. The second contribution explores heterogeneous idle resources at run-time both inside and across consecutive instruction bundles. The technique focuses on soft errors. The third contribution deals with persistent faults. A hardware mechanism is proposed which replicates at run-time the instructions and schedules them at the idle slots considering the resource constraints. In order to further decrease the performance overhead and to support single and multiple Long-Duration Transient (LDT) error mitigation a fourth contribution is presented. We propose a hardware mechanism, which detects the faults that are still active during execution and re-schedules the instructions to use not only the healthy function units, but also the fault-free components of the affected function units.Les processeurs intégrés dans des domaines critiques exigent une combinaison de fiabilité, de performances et de faible consommation d'énergie. Very Large Instruction Word (VLIW) processeurs améliorent les performances grâce à l'exploitation ILP (Instruction Level Parallelism), tout en maintenant les coûts et la puissance à un niveau bas. L’ILP étant fortement dépendant de l'application, les processeurs n’utilisent pas toutes leurs ressources en permanence et ces ressources peuvent donc être utilisées pour l'exécution d'instructions redondantes. Cette thèse présente une méthodologie d’injection fautes pour les processeurs VLIW et trois mécanismes matériels pour traiter les pannes légères, permanentes et à long terme menant à quatre contributions. La première contribution présente un schéma d’analyse du facteur de vulnérabilité architecturale et du facteur de vulnérabilité d’instruction pour les processeurs VLIW. La deuxième contribution explore les ressources inactives hétérogènes au moment de l'exécution, à l'intérieur et à travers des ensembles d'instructions consécutifs. La technique se concentre sur les erreurs légères. La troisième contribution traite des défauts persistants. Un mécanisme matériel est proposé, qui réplique au moment de l'exécution les instructions et les planifie aux emplacements inactifs en tenant compte des contraintes de ressources. Afin de réduire davantage le surcoût lié aux performances et de prendre en charge l’atténuation des erreurs uniques et multiples sur les transitoires de longue durée (LDT), une quatrième contribution est présentée. Nous proposons un mécanisme matériel qui détecte les défauts toujours actifs pendant l'exécution et réorganise les instructions pour utiliser non seulement les unités fonctionnelles saines, mais également les composants sans défaillance des unités fonctionnelles concernées