Diffraction des rayons X appliquée au patrimoine

ISSN 0768-424XInternational audienceAt the beginning of the XXth century, the discovery of the X-rays allowed to verify the theories expressed by crystallographers during the XVIIIth century. X-rays diffraction allows characterizing polycrystalline materials of the cultural heritage as pigments, opacifiers in glasses, raw clays and metals. It gives quantitative information on the thickness of thin layers, the concentration of atoms in a solid solution, the texture. Several configurations are possible depending on the size and fragility of the artefacts: portable devices, laboratory facilities, in reflection or in transmission.Au début du XXe siècle, la découverte des rayons X a permis de vérifier les théories énoncées par les minéralogistes depuis le XVIIIe siècle sur la structure atomique des cristaux. La diffraction des rayons X permet de caractériser les cristaux dans les matériaux du patrimoine comme les pigments, les opacifiants des verres, les argiles crues, les métaux. Elle donne des informations quantitatives sur l'épaisseur de couches minces, la concentration d'atomes dans une solution solide, la texture. Plusieurs configurations permettent de s'adapter aux dimensions et à la fragilité des œuvres, qu'un prélèvement soit envisageable ou non : appareils portables, diffractomètres de laboratoire, en réflexion ou en transmission