Analyses minéralogique, chimique et technologique d'engobes argileux

The mineralogical and chemical composition of 23 glossy clay layers are discussed. These can be grouped into four groups : kaolinitic, illitic, mixed and chloritic clay layers. The amount of the clay fraction varies from group to troup (74-91 vol. %). The morphological and mineralogical changes due to oxidative firing (500-1 150 °C) were studied by electron microscopy and X-ray diffraction. The clay phases are substituted by a great amount of an amorphous/vitreous phase at temperatures exceeding 950°C ; small amounts of newly formed crystalline phases can be detected too. The gloss, resp. the reflectance, of the layers increases strongly from 950 °C upwards, with a maximum between 1 000-1 100 °C. The illitic clay layers give the best results. The reflectance is therefore a function of the amount, resp. composition, of the amorphous/vitreous phase present in the layer after firing and not due to the presence of crystalline phases.Nous présentons ici la composition minéralogique et chimique de vingt-trois engobes argileux. Ceux-ci appartiennent à quatre groupes : engobes kaolinitiques, illitiques, mixtes et cliloritiques. La teneur en phase argileuse varie de groupe en groupe (74-91 % volume). Les changements morphologiques et minéralogiques dus à la cuisson oxydante (500-1 150 °C) ont été suivis au microscope électronique à balayage et par diffractométrie aux rayons X. On note, entre autres, la substitution majeure des minéraux argileux de départ par une phase amorphe/vitreuse dès 950 °C pour atteindre son maximum entre 1 000-1 100 °C, les engobes illitiques donnant la meilleure brillance. Le pouvoir réflecteur, respectivement la brillance, des engobes type terre sigillée est donc fonction du contenu, resp. de la composition chimique, de la phase amorphe/vitreuse et n'est pas dû à la présence de phases cristallines.Michel Béatrice, Weiss Johannes, Wessicken Roland, Maggetti Marino. Analyses minéralogique, chimique et technologique d'engobes argileux. In: Revue d'Archéométrie, n°11, 1987. pp. 63-75