The Algorithm of Filling X Bits in Dual-Run-Length Coding

双游程编码是集成电路测试数据压缩的一种重要方法,可分为无关位填充和游程编码压缩两个步骤.现有文献大都着重在第二步,提出了各种不同的编码压缩算法,但是对于第一步的无关位填充算法都不够重视,损失了一定的潜在压缩率.本文首先分析了无关位填充对于测试数据压缩率的重要性,并提出了一种新颖的双游程编码的无关位填充算法,可以适用于不同的编码方法,从而得到更高的测试数据压缩率.该算法可以与多种双游程编码算法结合使用,对解码器的硬件结构和芯片实现流程没有任何的影响.在ISCAS89的基准电路的实验表明,对于主流的双游程编码算法,结合该无关位填充算法后能提高了6%-9%的测试数据压缩率.国家高技术研究发展计划(863计划)中文核心期刊要目总览(PKU)中国科技核心期刊(ISTIC)中国科学引文数据库(CSCD)011-63