Add to ORKG基于扫描链技术的SoC芯片测试可产生比正常使用模式下更大的功耗,这将会对器件可靠性产生不利影响,故在测试时需要将芯片测试功耗控制在允许峰值功耗之下.文中采用蚁群优化思路设计SoC测试调度算法,用于在峰值功耗和TAM总线最大宽度约束下降低SoC测试时间.实验结果表明,本方法优于先前已发表的相关方法.国家自然科学基金; 广东省科技计划项目; 深圳市科技计划项目中文核心期刊要目总览(PKU)中国科技核心期刊(ISTIC)中国科学引文数据库(CSCD)075-82
[[abstract]]本研究中，我們針對多模式資源限制專案排程問題 (Multi-Mode Resource-Constrained Project Scheduling Problem MRCP...
To cope with the problem of test wrapper/TAM co-optimization of SoC, this paper proposes an ant colo...
測試時域最佳化可以有效降低在掃描鍊移位時，所產生電源供應的電壓降峰值。但是，如何找到產生電壓降峰值的正反器依舊是困難的問題，因為要計算數以百萬的線性方程式。本篇論文提出了一個新的測試時域最佳化演算法，...
由于在压缩测试时间和降低测试温度方面的作用,SoC测试调度技术引起了研究者的广泛关注.研究发现,芯片的功耗剖面与热剖面并不一致,而过多的热量才是导致芯片失效的直接原因,因此通过峰值功耗或平均功耗的约束...
针对系统级芯片(SoC)测试壳优化和测试访问机制的测试总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoC Wrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减...
Описывается эволюционный алгоритм синтеза тестов для цифровых устройств (ЦУ), основанный на исполь-з...
提出了一种基于遗传算法的SOC功耗与时间协同优化方案。解决了SOC测试中最大瞬时功耗与最小测试时间的矛盾。建立相应的目标函数、约束函数及评估函数,在瞬时功耗不超过规定值的前提下,寻求最短测试时间。方案...
SoC testing scheduling is an NP hard problem, and it is more complex for the hierarchical SoC archit...
[[abstract]]最佳化的應用在日常生活中比比皆是。所謂的最佳化是利用數學方法在函式限制式中找到最佳最好的數值。然而真實世界最佳化問題常常是高階且非線性的數學問題，傳統的數學理論跟方法無法求出確...
将离散空间问题求解的蚁群算法引入连续空间,针对多目标优化问题的特点,提出一种用于求解带有约束条件的多目标函数优化问题的蚁群算法.该方法定义了连续空间中信息量的留存方式和蚂蚁的行走策略,并将信息素交流和...
以重庆大学CampusGrid建设和加入ChinaGrid的发展规划为背景,研究了多网格环境中出现共用节点(即同时为多个网格系统服务的节点)时资源利用率下降问题,并针对该问题提出了以提高资源利用率为优...
鉴于群体智能算法良好的优化效果及调度问题的实际需要，本文对群体智能算法进行了深入研究，针对一些算法的缺点和不足，给出其改进方法或提出新的优化模型，使之更为高效可靠；另一方面，对经典调度模型和实际调度问...
[[abstract]]本文的主要目的為基於試題中各種影響試題優劣的限制條件之下，從一大型題庫中建構出一份具備高鑑別度之最佳試卷。由於試題組卷問題已被證實具備NP-hard 之特性，所以建構出一份優良...
[[abstract]]本計畫主題為「電源閘控系統晶片測試排程與功耗管理中降低尖峰功耗與縮短等待時間之研究」。主要研究以電源閘控功耗管理與測試排程降低奈米製程中系統晶片中的功耗；同時探討電源閘控所引發...
针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行...
[[abstract]]本研究中，我們針對多模式資源限制專案排程問題 (Multi-Mode Resource-Constrained Project Scheduling Problem MRCP...
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測試時域最佳化可以有效降低在掃描鍊移位時，所產生電源供應的電壓降峰值。但是，如何找到產生電壓降峰值的正反器依舊是困難的問題，因為要計算數以百萬的線性方程式。本篇論文提出了一個新的測試時域最佳化演算法，...
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[[abstract]]本文的主要目的為基於試題中各種影響試題優劣的限制條件之下，從一大型題庫中建構出一份具備高鑑別度之最佳試卷。由於試題組卷問題已被證實具備NP-hard 之特性，所以建構出一份優良...
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測試時域最佳化可以有效降低在掃描鍊移位時，所產生電源供應的電壓降峰值。但是，如何找到產生電壓降峰值的正反器依舊是困難的問題，因為要計算數以百萬的線性方程式。本篇論文提出了一個新的測試時域最佳化演算法，...