Wasserstoffbeladene metallische Multischichten wurden mit der tomographischen Atomsonde (TAP) und der Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) auf ihre chemische zusammensetzung mit Auflösungen auf Subnanometerskala untersucht. Bei den verwendeten Methoden werden nach dem Prinzip der Flugzeit-Massen-Spektrometrie die Proben atomlagenweise abgetragen und analysiert. Die Ergebnisse werden präsentiert und im Hinblick auf die Wassertstoffverteilung an den Grenzflächen diskutiert. Gleichgwichtsverteilungen können bei Temperaturen unterhalb von 60 k gemessen werden. Bei höheren Temperaturen führt die hohe Mobilität des Wassertstoffs zu einer Segregation des Wasserstoffs an der Oberfläche der Probe. Die während des Abtrags der Metalle geschaffenen ...