Add to ORKG原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)具有极高的观测分辨率和作业精度,在纳米材料表征与纳米器件组装方面发挥了不可替代的作用.AFM工作区域的选取依赖于光学显微镜,受可见光波波长的限制,光学显微镜的分辨率一般不超过200 nm,这导致光学显微镜无法有效辨识AFM观测目标样本所在的区域.当样本被移动或者更换AFM扫描探针引起样本与探针针尖的相对位置发生变化时,如何重新将AFM探针精确定位到原观测/操作区域具有非常大的挑战性.本文研究提出了一种新的免标记探针重定位方法,综合考虑了样本角度旋转与位置偏移两个因素,首先利用光学显微镜选取样本基底上易于识别的自然特征作为参照..
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
本发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零，以此状态作为初始状态；控制压电陶瓷收缩，带动探针向上运动，使AFM探针的针尖离开基底，所述针尖和基底表面的水...
原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)具有极高的观测分辨率和作业精度,在纳米材料表征与纳米器件组装方面发挥了不可替代的作用.AFM工作区域的选取依赖于光学显微镜,受可见...
本发明公开一种通过施加电流实现原子力显微镜(AFM)纳米沉积的方法，即通过向AFM针尖和基底施加一定电流并控制电流的大小，实现AFM导电探针上的原子沉积到基底上，形成导体沉积点，该沉积点可用于纳米点阵...
本发明公开一种通过施加电流实现原子力显微镜(AFM)纳米沉积的方法，即通过向AFM针尖和基底施加一定电流并控制电流的大小，实现AFM导电探针上的原子沉积到基底上，形成导体沉积点，该沉积点可用于纳米点阵...
采用一种无耦合、三轴精确定位的纳米运动平台作为扫描器,研制了一种新型原子力显微镜(AFM).该AFM有效消除了通常使用的单管式压电陶瓷扫描器扫描过程中运动耦合产生的两种结构误差--交叉耦合误差和扫描范...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径,实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中,通过...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径,实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中,通过...
本发明公开一种基于AFM虚拟纳米手策略的纳米机器人操作方法，通过对纳米物体进行运动模型的建模，来控制AFM探针对样本的作用点、探针推动步长及推动速度对纳米物体进行推动操作，实现AFM单探针模拟多探针的...
本发明公开一种基于AFM虚拟纳米手策略的纳米机器人操作方法，通过对纳米物体进行运动模型的建模，来控制AFM探针对样本的作用点、探针推动步长及推动速度对纳米物体进行推动操作，实现AFM单探针模拟多探针的...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径，实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中，通过...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径，实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中，通过...
针对纳米操作和装配过程中面临的由AFM单探针带来的物体丢失和操作效率低等问题,通过对纳米粒子推动实验的分析,建立了纳米粒子推动操作的运动学模型。该模型充分考虑了推动速度及探针磨损两个因素,引入了与速度...
针对纳米操作和装配过程中面临的由AFM单探针带来的物体丢失和操作效率低等问题,通过对纳米粒子推动实验的分析,建立了纳米粒子推动操作的运动学模型。该模型充分考虑了推动速度及探针磨损两个因素,引入了与速度...
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
本发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零，以此状态作为初始状态；控制压电陶瓷收缩，带动探针向上运动，使AFM探针的针尖离开基底，所述针尖和基底表面的水...
原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)具有极高的观测分辨率和作业精度,在纳米材料表征与纳米器件组装方面发挥了不可替代的作用.AFM工作区域的选取依赖于光学显微镜,受可见...
本发明公开一种通过施加电流实现原子力显微镜(AFM)纳米沉积的方法，即通过向AFM针尖和基底施加一定电流并控制电流的大小，实现AFM导电探针上的原子沉积到基底上，形成导体沉积点，该沉积点可用于纳米点阵...
本发明公开一种通过施加电流实现原子力显微镜(AFM)纳米沉积的方法，即通过向AFM针尖和基底施加一定电流并控制电流的大小，实现AFM导电探针上的原子沉积到基底上，形成导体沉积点，该沉积点可用于纳米点阵...
采用一种无耦合、三轴精确定位的纳米运动平台作为扫描器,研制了一种新型原子力显微镜(AFM).该AFM有效消除了通常使用的单管式压电陶瓷扫描器扫描过程中运动耦合产生的两种结构误差--交叉耦合误差和扫描范...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径,实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中,通过...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径,实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中,通过...
本发明公开一种基于AFM虚拟纳米手策略的纳米机器人操作方法，通过对纳米物体进行运动模型的建模，来控制AFM探针对样本的作用点、探针推动步长及推动速度对纳米物体进行推动操作，实现AFM单探针模拟多探针的...
本发明公开一种基于AFM虚拟纳米手策略的纳米机器人操作方法，通过对纳米物体进行运动模型的建模，来控制AFM探针对样本的作用点、探针推动步长及推动速度对纳米物体进行推动操作，实现AFM单探针模拟多探针的...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径，实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中，通过...
本发明公开一种基于AFM的纳米沟道加工方法。通过控制AFM探针的伸长距离、探针运动速度及路径，实现在二氧化硅基底上加工出特定深度和宽度的纳米沟道。本发明的纳米沟道加工方法可应用于微流控芯片制造中，通过...
针对纳米操作和装配过程中面临的由AFM单探针带来的物体丢失和操作效率低等问题,通过对纳米粒子推动实验的分析,建立了纳米粒子推动操作的运动学模型。该模型充分考虑了推动速度及探针磨损两个因素,引入了与速度...
针对纳米操作和装配过程中面临的由AFM单探针带来的物体丢失和操作效率低等问题,通过对纳米粒子推动实验的分析,建立了纳米粒子推动操作的运动学模型。该模型充分考虑了推动速度及探针磨损两个因素,引入了与速度...
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
针对基于原子力显微镜(AFM)的机器人化纳米操作,对探针作用下探针—基片—微粒之间纳观力的作用规律进行了初步分析.指出起主要作用的纳观力为范德华力、接触斥力、纳米摩擦力、毛细作...
本发明公开一种原子力显微镜(AFM)针尖基底距离控制的方法。调节针尖与基底接触并且压力为零，以此状态作为初始状态；控制压电陶瓷收缩，带动探针向上运动，使AFM探针的针尖离开基底，所述针尖和基底表面的水...