Películas delgadas de semiconductores en medios acuosos

En este trabajo se determinan las propiedades electrónicas de películas delgadas de CdS en contacto con un electrolito acuoso, para lo cual se desarrolló la técnica de conductancia superficial in-situ y se demostró su aplicabilidad para el estudio de otras películas semiconductoras. Se desarrolló un modelo que describe la interfaz semiconductor policristalino / electrolito teniendo en cuenta explícitamente la presencia de barreras intergrano. Este modelo describe la interfaz de las películas delgadas de CdS y fue aplicado para la interpretación de los resultados experimentales. A partir de los datos de espectroscopía de impedancia electroquimica, transmitancia modulada y conductancia superficial se determinó el potencial de banda plana, la densidad de portadores libres, la altura de barreras intergranos y su dependencia con el potencial