Studio del dicroismo locale di nanostrutture metalliche tramite microscopia ottica a campo prossimo

Scopo della tesi è lo studio del dicroismo locale di un campione metallico nanostrutturato, tramite la microscopia ottica a campo prossimo con modulazione di polarizzazione (PM-SNOM). Dal momento che la sonda SNOM presenta un dicroismo proprio (detto residuo), le misure dirette che si possono eseguire su un campione saranno la convoluzione del dicroismo della punta e del campione. Al fine di dare una valutazione quantitativa dell’attività ottica occorre quindi eseguire un trattamento delle immagini SNOM tramite un modello noto in letteratura valido per piccoli dicroismi residui. La caratterizzazione del dicroismo di assorbimento per luce propagante è stata effettuata misurando l’assorbimento ottico del campione in funzione della direzione della polarizzazione lineare incidente. L’analisi in campo prossimo è consistita nell’acquisizione e nell’analisi di immagini SNOM. L’analisi e’ stata effettuata tramite un programma realizzato ad-hoc per questa tesi con LabView che effettua la deconvoluzione del dicroismo residuo dalle immagini, nonche’ la manipolazione delle stesse tramite opportuni filtraggi. Lo stesso dicroismo residuo può essere valutato tramite questo programma analizzando le acquisizioni SNOM effettuate su un campione otticamente isotropo. La caratterizzazione ha evidenziato differenze sensibili delle proprietà ottiche in funzione della lunghezza d’onda e del tipo di stimolazione utilizzato; queste sono da ascrivere alle diverse modalità di accoppiamento del campo elettromagnetico al metallo nelle varie sperimentali