Численный анализ экранирующих свойств дифракционной решетки при возбуждении электронным потоком излучения на метало-диэлектрических структурах

В работе произведен численный анализ плотности энергии дифракционного излучения, возбуждаемого при движении электронного потока вдоль периодической метало-диэлектрической структуры. В отличии от ранее полученного длинноволнового приближения, данный подход позволяет изучить экранирующие свойства дифракционной решетки и в более широком интервале изменения параметров исследуемой системы. Результаты численного анализа сравниваются с результатами экспериментального моделирования. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/1682