X-RAY INTERFEROMETRY AND LATTICE PARAMETER INVESTIGATION

Résumé. 2014 L’essentiel de l’interférométrie des rayons X et ses applications principales sont revus. Des variations très petites de la constante réticulaire, qui se trouvent même dans des cristaux de la meilleure qualité, ont été étudiées à l’aide de topographie ordinaire et celle à franges moirées. Des déformations correspondantes aux variations de 0394d/d ~ 10-7 s’observent dans des grands cristaux parfaits. Abstract. 2014 The essentials of X-ray interferometry and its principal application fields are reviewed. Very small lattice disturbances which are present even in highest quality crystals of silicon have been investigated by ordinary and moire topography. Strains corresponding to 0394d/d variations of 10-7 are found in large perfect crystals. REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUÉE TOME 11, JANVIER 1976, PAGE The principles of X-ray interferometry [1, 2, 3, 4, 5] are best and in a most illustrative way explained by means of the moire model [4] which, although simplify-ing, describes the essentials of interferometric defect study correctly