Résumé. Ce papier présente une étude de la modélisation de perturbations électromagnétiques par sonde en champ proche et son application à l’agression d’un circuit intégré. Dans un premier temps, un modèle est établi à partir de l’évaluation du couplage entre la sonde et une simple ligne chargée par 50Ω. Ensuite, différentes simulations permettent de considérer l’influence des charges (résistives, capacitives ou inductives) en bout de ligne et un domaine de validité du modèle est proposé. L’ensemble des résultats issus du modèle est finalement confronté à des mesures et un bon accord est obtenu permettant de valider celui-ci. Le modèle est alors appliqué au cas réel de l’agression d’un circuit intégré. I
SIGLEINIST T 71156 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
International audienceLa modélisation du rayonnement électromagnétique (EM) des câbles électriques d...
National audienceToutes les méthodes d’aimantation des matériaux supraconducteurs sont basées sur la...
La modélisation par éléments finis des conducteurs en mouvement nécessite généralement des calculs s...
L'objet de ce travail est la modélisation des lignes de transmission multifilaires dans le domaine t...
Avec l'électrification des moyens de transports, en particulier dans les applications avions et l’au...
RÉSUMÉ: Dans certains cas, les disjoncteurs à haute tension sont constitués de plusieurs chambres de...
Ces travaux de recherche portent sur la problématique CEM (Compatibilité Electromagnétique) en élect...
L'objectif de cette thèse est l'étude de l'immunité des circuits intégrés complexes face aux perturb...
Depuis les années 1990, l énergie électrique a tendance à supplanter les autres énergies de servitud...
International audienceLa Compatibilité Electromagnétique (CEM) apparaît aujourd'hui comme l'une des ...
Le potentiel des engrenages face suscite l'intérêt des constructeurs aéronautiques. Le programme de ...
L’utilisation de la méthode des éléments finis s’avère encore lourde pour la modélisation de structu...
Ce travail présente une modélisation rapide d’ordre élévé capable de modéliser une configuration rot...
International audienceLe comportement fréquentiel de la terre n’est pas toujours bien connu ce qui p...
SIGLEINIST T 71156 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc
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