JOURNAL DE PHYSIQUE Colloque C2, supplkment au n O 3, Tome 40, mars 1979, page C2-101 STRUCTURE AND CRYSTALLIZATION OF Fe-Si AMORPHOUS THIN FILMS

RQsum6.- L16tat amorphe et le processus de cristallisation de film amorphe de Fe-Si obtenus par Qva-poration sous vide ont btG 6tudiQs par spectroscopie Miissbauer, microscopic et diffraction Qlectro-nique. Des spectres Mgssbauer correspondant aux alliages amorphes ferromagnstiques FesoSiso et paramagndtique Fe30Si70 ont St6 obtenus par la technique en retour utilisant les Glectrons de conver-sion. Le large sextuplet obtenu 1 partir de FesoSisocomporte une structure fine qui ne peut Btre due P aucun composQ connu; ceci suggsre l'existence d'un ordre 1 courte distance dans les alliages fraf-chement prQpar6s. Par recuit, il apparaft des modifications de cet ordre S courte distance, bien avant la cristallisation qui a lieu P 250°C, avec d'abord l'apparition du sextuplet caractdristique de FesSix suivi d'une composante de fer pure. Le recuit de l'alliage paramagngtique amorphe FeaoSi70 conduit progressivement 1 des cristaux de 6-FeSin de plus en plus parfaits. Abstract.-Amorphous state and crystallization process of vacuum evaporated thin films of Fe-Si alloys were studied by means of Mijssbauer spectroscopy, electron microscopy and electron diffraction. &ss-bauer spectra from ferromagnetic amorphous FesoSi50 and paramagnetic amorphous FesoSi,o films were obtained with the back scattering method using the conversion electrons. In the typical broad sextet pattern from the FesoSiso film, a fine structure, which could not be attributed to any known chemi